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    技術(shù)支持

    Taylor Hobson CCIMP白光干涉應(yīng)用領(lǐng)域

    更新時(shí)間:2020-10-09   點(diǎn)擊次數(shù):2479次

    許多用戶依靠CCIMP解決其他儀器*無法處理的測量問題。憑借出色的量程、很高的分辨率以及操作簡便的優(yōu)勢,成為在眾多應(yīng)用場合中研發(fā)和質(zhì)量保證的理想工具。

    ●材料研究
    ●軸承粗糙度
    ●拋光光學(xué)器件
    ●織紋鋼
    ●金剛石車削
    ●汽車噴油器
    ●表面結(jié)構(gòu)

    ●SIMS凹面
    ●晶圓粗糙度
    ●晶圓蝕刻深度
    ●太陽能電池.

    ●醫(yī)療植入物
    ●密封面
    ●曲軸加工
    ●儲油率(軸承)
    ●紙/碳粉
    ●手機(jī)耳機(jī)
    ●牙齒磨損.

    ●LED
    MEMS
    ●數(shù)據(jù)存儲

     

     應(yīng)用實(shí)例:

    醫(yī)療填充物

    汽車行業(yè)

     

     太陽能當(dāng)

     

     

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