Surtronic S116 小粗糙度儀 Taylor Hobson

• 更新時(shí)間：2025-04-24
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Surtronic S116 小粗糙度儀 Taylor Hobson
顯示單元;112-1502標(biāo)準(zhǔn)測(cè)針;測(cè)針連接線;多刻線樣板;測(cè)針提升機(jī)構(gòu);USB接口充電器;使用手冊(cè);USB通訊電纜;儀器箱

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Surtronic S116 小粗糙度儀 Taylor Hobson
SURTRONIC S116 粗糙度儀
一、S116標(biāo)準(zhǔn)配置:
顯示單元;112-1502標(biāo)準(zhǔn)測(cè)針;測(cè)針連接線;多刻線樣板;測(cè)針提升機(jī)構(gòu);USB接口充電器;使用手冊(cè);USB通訊電纜;儀器箱

二、技術(shù)參數(shù)
數(shù)據(jù)顯示 ：
顯示屏每頁顯示7個(gè)測(cè)試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）
可以打印測(cè)試結(jié)果和圖形
使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測(cè)試結(jié)果
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：
儀器可以存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形
儀器支持U盤zui大4G，zui多可存儲(chǔ)39,000個(gè)圖形，每批可存儲(chǔ)10萬個(gè)測(cè)試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。
使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲(chǔ)無限數(shù)據(jù)。
電源：
充電器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充電時(shí)間：4小時(shí)
電池壽命：充電一次可以做2000次測(cè)試
待機(jī)時(shí)間：5000小時(shí)
由待機(jī)狀態(tài)到開機(jī)測(cè)試狀態(tài)，zui長時(shí)間不超過1秒I
自動(dòng)關(guān)機(jī)：30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置
Surtronic S116 AMETEK Taylor Hobson
三、技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量范圍：200 um 100 um 10 um
分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm
重復(fù)精度 (Ra) ：1%測(cè)試值+底噪
傳感器原：電感
測(cè)量力：150-300mg
測(cè)針針尖半徑：標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測(cè)試方式：滑動(dòng)掃描
校準(zhǔn)：
自動(dòng)軟件校準(zhǔn)    標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287

四、測(cè)試參數(shù)：
三個(gè)取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個(gè)濾波器：2CR、Gaussian
評(píng)定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
zui大行程：17.5mm
測(cè)試速度：
測(cè)試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
測(cè)試參數(shù)：
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量12個(gè)參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量11個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量14個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 ：R3z (Daimler Benz)
測(cè)試單位：um/uin

五、可選附件
測(cè)試平臺(tái)：
00級(jí)大理石平板：400X250X70mm
有效高度：280mm。
可調(diào)Y軸V型鐵
可調(diào)范圍：±5mm
V型鐵長度100mm

SURTRONIC S116比SURTRONIC 25有如下改進(jìn)：
1、電池由堿性9V改為鋰電充電電池；
2、顯示屏為觸摸屏；
3、可以顯示測(cè)試圖形；
4、SURTRONIC 25只能測(cè)試10個(gè)參數(shù)，S116在不同標(biāo)準(zhǔn)下可以測(cè)量12、11、14個(gè)參數(shù)（見技術(shù)參數(shù)）；
5、原來SURTRONIC 25使用電位器校準(zhǔn)測(cè)試結(jié)果，現(xiàn)在改為自動(dòng)軟件校準(zhǔn)。方便使用；
6、顯示屏顯示的結(jié)果（數(shù)據(jù)和圖形）可以旋轉(zhuǎn)，可以方便的從四個(gè)方向觀察測(cè)試結(jié)果；
7、儀器底部為V形，測(cè)試軸類部件方便可靠；
8、測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)增加了存儲(chǔ)圖形功能；
9、可以使用U盤直接存儲(chǔ)，一個(gè)4G容量U盤可存儲(chǔ)3.9萬個(gè)圖形，數(shù)據(jù)可以存儲(chǔ)70批次，每批次為10萬個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)。